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但本領域普通技術人員可以理解到，晶圓制作方法1500的各個步驟不*可以對一整個晶圓進行，也可以針對單一個芯片進行。在一實施例當中，如果要讓內框結構的晶圓層厚度小于邊框結構的晶圓層厚度，可以反復執行步驟1520與1530。在***次執行步驟1520時，屏蔽層的圖樣*包含邊框區域。***次執行蝕刻步驟1530時，蝕刻的深度到達內框結構的厚度。接著，第二次執行步驟1530，屏蔽層的圖樣包含了內框區域。接著，第二次的蝕刻步驟1530可以將晶圓層蝕刻到一半的高度。如此一來，就有厚薄不一的邊框結構與方框結構。步驟1540：去除晶圓上的屏蔽層。如圖16d所示，屏蔽層1610已經被去除。本領域普通技術...

氣泡內氣體或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫或清洗液的溫度。它可以是高于室溫或清洗液溫度的一定溫度。較佳地，該溫度是明顯低于內爆溫度ti。根據公式(8)和(9)，如果已知(δt-δt)，可以計算出內爆時間τi。但通常情況下，(δt-δt)不太容易被計算出或直接得到。然而可以憑經驗直接得到τi的值。圖7e揭示了根據經驗得出內爆時間τi值的流程圖。在步驟7210中，基于表1，選擇五個不同的時間段τ1作為實驗設定(doe)的條件。在步驟7220中，選擇至少是τ1十倍的時間段τ2，在***次測試時**好是100倍的τ1。在步驟7230中，使用確定的功率水平p0運行以上五種條件來分別清洗具有圖案結構的...

也不限定這些芯片采用同一種剖面設計，更不限定使用同一種基板結構。在執行晶圓級芯片封裝時，可以根據同一片晶圓上所欲切割的芯片的設計，來對該片晶圓執行特定的制程。請參考圖15所示，其為根據本申請一實施例的晶圓制作方法1500的前列程示意圖。圖15所示的晶圓制作方法1500可以是晶圓級芯片封裝方法的一部分。該晶圓級芯片封裝方法可以是先在一整片晶圓上進行制作、封裝與測試，然后經切割后，再將芯片放置到個別印刷電路板的過程。本申請所欲保護的部分之一是在封裝測試之前，針對于基板結構的制作方法。當然本申請也想要保護一整套的晶圓級芯片封裝方法。圖15的晶圓制作方法1500所作出的芯片，可以包含圖3~14...

因此晶圓1010須旋轉以在整個晶圓1010上接收均勻的聲波能量。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個聲波裝置1003，但是在其他實施例中，也可以同時或間歇使用兩個或多個聲波裝置。同理，也可以使用兩個或多個噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器；圖2b示意了矩形的傳感器；圖2c示意了八邊形的傳感器；圖2d示意了橢圓形的傳感器；圖2e示意了半圓形的傳感器；圖2f示意了1/4圓形的傳感器；圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004...

對比臺積電（50%）和中芯國際（25%）的毛利率發現前者是后者的兩倍之多。因此，大陸半導體制造業，在經歷開荒式的野蠻增長后，未來需要精耕細作，通過良率的提升來增加國際競爭力。臺積電和中芯國際毛利率對比圖但是同樣是先進制程，臺積電和中芯國際良率差別如此之大，究竟是為什么呢？檢測設備能在其中發揮什么作用呢？在晶圓的整個制造過程中，光刻步驟越多造成的缺陷就越多，這是產生不良率的主要來源。因此即使是使用相同的阿斯麥的EUV光刻機，不同晶圓廠制造良率也會存在差別。光刻機對晶圓圖形化的過程中，如果圖片定位不準，則會讓整個電路失效。因此，制造過程的檢測至關重要。晶圓檢測設備主要分為無圖案缺陷檢測設備...

預計短期內硅晶圓產業將同步受益。根據2016年全球主要硅晶圓廠商營收資料，前六大廠商全球市占率超過90%，其中前兩大日本廠商Shin-Etsu和SUMCO合計全球市占率超過50%，中國臺灣環球晶圓由于并購新加坡廠商SunEdisonSemiconductor，目前排名全球第三，2016年銷售占比達17%。中國半導體材料分類占比市場狀況與全球狀況類似，硅晶圓和封裝基板分別是晶圓制造和封裝材料占比比較大的兩類材料。從增長趨勢圖可看到2016～2017年中國半導體材料市場快速增長，無論是晶圓制造材料還是封裝材料，增長幅度都超過10%。圖：2012~2017年中國晶圓制造材料市場變化中國晶圓制...

在步驟1550之后，可以獲得圖3、圖8a或圖8b所示的基板結構300或800。在步驟1550之后，流程可以前往可選的步驟1570。在一實施例當中，還可以前往步驟1580?？蛇x的步驟1570：涂布樹酯層。為了形成如圖4、5a、5b、9、10a與10b所示的基板結構400、500、900與1000，可以在步驟1550之后執行本步驟1570。圖16h~j所示的實施例，分別是在圖16e~g所示實施例的金屬層上涂布樹酯層之后的結果。步驟1580：后續的封裝。步驟1580可以包含多個子步驟，例如將晶圓貼上膠膜(通常是藍色pvc膠膜)進行保護。接著，打印芯片卷標，用于標示芯片的制造商、芯片型號、制造...

逐步縮短時間τ2來運行doe，直到可以觀察到圖案結構被損傷。由于時間τ2被縮短，氣泡內的氣體或蒸汽的溫度不能被足夠冷卻，從而會引起氣泡內的氣體或蒸汽的平均溫度的逐步上升，**終將會觸發氣泡內爆，觸發時間稱為臨界冷卻時間τc。知道臨界冷卻時間τc后，為了增加安全系數，時間τ2可以設置為大于2τc的值。因此，可以確定清洗工藝的參數，使得施加聲能的清洗效果導致的產量提高大于因施加聲能造成的損傷而導致的產量下降。也可以例如由客戶規定損傷百分比的預定閾值。可以確定清洗工藝的參數，使得損傷百分比低于預定閾值，或者基本上為零，甚至為零。預定閾值可以是例如，10％,5％,2％,或1％。如果晶圓生產的*...

并均勻地到達位于腔室c內的半導體晶圓200。在實際應用中，半導體晶圓干燥設備100包含多個微波產生器130。一般而言，微波產生器130平均地環繞腔室c分布，如此一來，微波w可均勻地進入腔室c內，并均勻地到達位于腔室c內的半導體晶圓200，從而促進半導體晶圓200的干燥過程。舉例而言，如圖1所示，至少兩個微波產生器130平均地分布于殼體120外側，使其平均地環繞腔室c分布。另外，應當理解的是，本發明的殼體120基本上可設置于產業中現有的單晶圓濕處理設備(圖未示)上。一般而言，單晶圓濕處理設備具有旋轉基座，其用以承載單一片半導體晶圓，以于單晶圓濕處理設備內對半導體晶圓進行各種處理。經單晶圓...

聲波能量不能有效地傳遞到通孔或槽中，到達它們的底部和側壁，而微粒、殘留物和其他雜質18048則被困在通孔或槽中。當臨界尺寸w1變小時，這種情況很容易發生在先進的半導體工藝中。參考圖18i至圖18j所示，氣泡18012的尺寸增大控制在一定范圍內，氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進區域的總體積vvtr的比值r遠低于飽和點rs。因為在特征內有小氣泡氣穴振蕩，新鮮的清洗液18047在通孔或槽中自由交換，使得殘留物和顆粒等雜質18048可以輕易地排出，從而獲得良好的清洗性能。由于通孔或槽中氣泡的總體積由氣泡的數量和大小決定，因此控制氣穴振蕩引起的氣泡尺寸膨脹對于具有高深寬比特征的晶圓的清洗性能至...

進行物理檢測，并通過算法分析自動分揀良品及次品的光學檢測設備。檢測設備主要用來保證和提升良率，良率是決定晶圓廠盈利的關鍵，因此，其**驅動力是晶圓廠對**率的需求。近十年來，半導體的蕭條期（2011-2013年）半導體檢測設備占整個半導體設備銷量重從10%上升至14%，而半導體景氣期（2015-2017年），半導體檢測設備占比又下降至10%左右。根據《芯片制造》一書中對良率模型測算結果：“在未來，隨著工藝制程步驟增加、制程尺寸縮小，芯片對任何一個較小缺陷的敏感性增加，并且更加致命”。按照電子系統故障檢測中的“十倍法則”：如果一個芯片中故障沒在芯片測試時發現，那么在電路板（PCB）級別發...

聲波能量不能有效地傳遞到通孔或槽中，到達它們的底部和側壁，而微粒、殘留物和其他雜質18048則被困在通孔或槽中。當臨界尺寸w1變小時，這種情況很容易發生在先進的半導體工藝中。參考圖18i至圖18j所示，氣泡18012的尺寸增大控制在一定范圍內，氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進區域的總體積vvtr的比值r遠低于飽和點rs。因為在特征內有小氣泡氣穴振蕩，新鮮的清洗液18047在通孔或槽中自由交換，使得殘留物和顆粒等雜質18048可以輕易地排出，從而獲得良好的清洗性能。由于通孔或槽中氣泡的總體積由氣泡的數量和大小決定，因此控制氣穴振蕩引起的氣泡尺寸膨脹對于具有高深寬比特征的晶圓的清洗性能至...

一些氣泡內爆繼續發生，然后，在時間段τ2內，關閉聲波功率，氣泡的溫度從tn冷卻至初始溫度t0。ti被確定為通孔和/或槽的圖案結構內的氣泡內爆的溫度閾值，該溫度閾值觸發***個氣泡內爆。由于熱傳遞在圖案結構內是不完全均勻的，溫度達到ti后，越來越多的氣泡內爆將不斷發生。當內爆溫度t增大時，氣泡內爆強度將變的越來越強。然而，氣泡內爆應控制在會導致圖案結構損傷的內爆強度以下。通過調整時間△τ可以將溫度tn控制在溫度td之下來控制氣泡內爆，其中tn是超/兆聲波對清洗液連續作用n個周期的氣泡**高溫度值，td是累積一定量的氣泡內爆的溫度，該累積一定量的氣泡內爆具有導致圖案結構損傷的**度(能量)...

可以利用多重的內框結構，例如回字型的內框結構來加強結構強度。所謂的回字型，就是內框內還有內框的結構。在一實施例當中，多重的內框結構可以是同心的，以便簡化設計。在另一實施例當中，多重的內框結構的框的寬度是相同的。在更一實施例當中，大內框結構與小內框結構的形狀可以是相應的。舉例來說，大內框結構與小內框結構的形狀可以是相同的，但大小不同?？虻膶挾瓤梢耘c內框結構的大小成比例。在一實施例當中，可以具有兩個以上的多重內框結構。請參考圖11b所示，其為根據本申請一實施例的半導體基板的結構的剖面1100的一示意圖。圖11b所示的實施例，為回字型的內框結構，就是內框內還有內框的多重內框結構。本申請所欲保...

可以利用多重的內框結構，例如回字型的內框結構來加強結構強度。所謂的回字型，就是內框內還有內框的結構。在一實施例當中，多重的內框結構可以是同心的，以便簡化設計。在另一實施例當中，多重的內框結構的框的寬度是相同的。在更一實施例當中，大內框結構與小內框結構的形狀可以是相應的。舉例來說，大內框結構與小內框結構的形狀可以是相同的，但大小不同。框的寬度可以與內框結構的大小成比例。在一實施例當中，可以具有兩個以上的多重內框結構。請參考圖11b所示，其為根據本申請一實施例的半導體基板的結構的剖面1100的一示意圖。圖11b所示的實施例，為回字型的內框結構，就是內框內還有內框的多重內框結構。本申請所欲保...

在圖8b所示的實施例當中，示出四個內框結構。本領域普通技術人員可以從圖8a與圖8b理解到，本申請并不限定內框結構的數量、位置、形狀等配置的參數。在一實施例當中，如圖8a所示，在內框結構821與822之處，晶圓層820的厚度與在邊框結構的厚度是相同的。在另一實施例當中，內框結構821與822的厚度與邊框結構的厚度可以是不同的。舉例來說，在內框結構821與822的晶圓層厚度，可以較在邊框結構的晶圓層厚度來得小。由于在芯片中間所承受的應力與/或熱應力可以比在邊緣來得小，因此可以使用較薄的內框結構作為補強。一方面降低基板結構的電阻值，另一方面還能補強基板結構。請參考圖9所示，其為根據本申請一實...

集成了暗場照明成像，pl成像，共聚焦掃描成像和倏逝場照明移頻成像模式。圖2為一種實施實例俯視效果圖，輸入光源通過位于不同方位的波導端面耦合方式，為圓形波導提供倏逝場照明；圖3為一種實施實例俯視效果圖，輸入光通過環形波導的表面倏逝場耦合進位于中心區域的圓形波導內，提供倏逝場照明；圖4為暗場照明的示例圖，其中a為采用環形光纖束輸出提供暗場照明的示例圖，b為對應暗場照明模塊的垂直截面圖；圖5為移頻照明成像原理示意圖。具體實施方式在下面的描述中闡述了很多具體細節以便于充分理解本發明，但是，本發明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來實施，因此，本發明并不限于下面公開的具體實施例的限制。本文中...

在清洗過程中晶圓24010浸沒在清洗液24070中。在上述實施例中，在晶圓清洗工藝中，如果聲波電源的所有關鍵工藝參數，例如功率水平、頻率、通電時間(τ1)、斷電時間(τ2)都預設在電源控制器中，而不是實時監測，在晶圓清洗過程中，由于一些異常情況，仍然可能發生圖案結構損傷。因此，需要一種實時監測聲波電源工作狀態的裝置和方法，如果參數不在正常范圍，則聲波電源應該關閉且需要發出警報信號并報告。圖25揭示了本發明的一實施例的使用超聲波或兆聲波清洗晶圓過程中監測聲波電源運行參數的控制系統。該控制系統包括主機25080、聲波發生器25082、聲波換能器1003、檢測電路25086和通信電纜2508...

因此晶圓1010須旋轉以在整個晶圓1010上接收均勻的聲波能量。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個聲波裝置1003，但是在其他實施例中，也可以同時或間歇使用兩個或多個聲波裝置。同理，也可以使用兩個或多個噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器；圖2b示意了矩形的傳感器；圖2c示意了八邊形的傳感器；圖2d示意了橢圓形的傳感器；圖2e示意了半圓形的傳感器；圖2f示意了1/4圓形的傳感器；圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004...

結構500所包含的該金屬層510的第四表面514并不是像該結構400所包含的該金屬層310的第四表面314一樣是平面。第四表面514的剖面相應于該金屬層的第三表面513的剖面。該金屬層510的第四表面514與該晶圓層320的***表面321的**短距離，要小于該金屬層310的第四表面314與該晶圓層320的***表面321的**短距離。由于該結構500的金屬層510的大部分比該結構400的金屬層310的大部分較薄，因此可以節省金屬本身的成本，也可以節省制作該金屬層510的步驟的成本。請參考圖5b所示，其為根據本申請一實施例的半導體基板的結構500的剖面示意圖。圖5b所示的實施例是圖5a...

為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片，其中該半導體晶圓當中預定切割出一第二芯片區域，包含如該***芯片區域相同的該基板結構，該***芯片區域與該第二芯片區域的形狀不同。在一實施例中，為了使用晶圓級芯片制造技術來加速具有上述基板結構的芯片制作，其中該半導體晶圓當中預定切割出多個芯片區域，該多個芯片區域當中的每一個都包含如該***芯片區域相同的該基板結構，該多個芯片區域當中的每一個芯片區域和該***芯片區域的形狀都相同。根據本申請的一實施例，提供一種晶圓制造方法，其特征在于，包含：據所欲切割的多個芯片區域的大小與圖樣，在一晶圓層的一第二表面上涂布屏蔽層，在該多個芯片區域其中的一***芯...

中國集成電路產業快速發展，官方目標是以「制造」帶動上下游全產業鏈共同進步，在此過程中，需要不斷完善和優化產業鏈各環節，掌握**環節重點突破，逐步擺脫**領域長期依賴進口的窘境。半導體材料產業具有產品驗證周期長和**壟斷等特點，想要順利打入國際**客戶廠商將非常困難，一般芯片生產商在成功認證材料商后，很少會更換供應商，例如全球前六大硅晶圓廠商幾乎供應全球90%以上的硅晶圓，中國集成電路硅晶圓基本上全部依賴進口。中國半導體材料廠商要想盡快打入市場，不*要加強研發和拿出高質量產品，還要在**的支持和協調下，優先從當地芯片制造廠商著手，完成在當地主流芯片生產廠商的成功認證，從而進一步實現以中國...

預計短期內硅晶圓產業將同步受益。根據2016年全球主要硅晶圓廠商營收資料，前六大廠商全球市占率超過90%，其中前兩大日本廠商Shin-Etsu和SUMCO合計全球市占率超過50%，中國臺灣環球晶圓由于并購新加坡廠商SunEdisonSemiconductor，目前排名全球第三，2016年銷售占比達17%。中國半導體材料分類占比市場狀況與全球狀況類似，硅晶圓和封裝基板分別是晶圓制造和封裝材料占比比較大的兩類材料。從增長趨勢圖可看到2016～2017年中國半導體材料市場快速增長，無論是晶圓制造材料還是封裝材料，增長幅度都超過10%。圖：2012~2017年中國晶圓制造材料市場變化中國晶圓制...

金屬層310可以代換為金屬層510。圖6所示剖面600的**是晶圓層320。該結構300所形成的芯片可以是矩形，也可以是正方形。在該晶圓層320的中間是該金屬層310。該金屬層310的上下軸長度611與左右軸長度612可以是相同，也可以不同。當兩者相同時，該金屬層310的剖面是正方形。該金屬層310剖面與該晶圓層320外緣之間，是該晶圓層320用于包圍該金屬層310的四個邊框。該四個邊框的厚度可以相同，也可以不同。舉例來說，相對于上下外緣的厚度621與623可以相同，相對于左右外緣的厚度622與624可以相同。但厚度621與622可以不同。本領域普通技術人員可以透過圖6理解到，本申請并...

為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片，其中該半導體晶圓當中預定切割出一第二芯片區域，包含如該***芯片區域相同的該基板結構，該***芯片區域與該第二芯片區域的形狀不同。進一步的，為了使用晶圓級芯片制造技術來加速具有上述基板結構的芯片制作，其中該半導體晶圓當中預定切割出多個芯片區域，該多個芯片區域當中的每一個都包含如該***芯片區域相同的該基板結構，該多個芯片區域當中的每一個芯片區域和該***芯片區域的形狀都相同。根據本申請的一方案，提供一種晶圓制造方法，其特征在于，包含：據所欲切割的多個芯片區域的大小與圖樣，在一晶圓層的一第二表面上涂布屏蔽層，在該多個芯片區域其中的一***芯片區域...

之后為f3，**后為f4,且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似，在一個實施例中，在時間段τ1內，電源的頻率先設置為f4,之后為f3，**后為f1，且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似，在一個實施例中，在時間段τ1內，電源的頻率先設置為f1，之后為f4，**后為f3，且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似，在一個實施例中，在時間段τ1內，電源的頻率先設置為f3,之后為f4，**后為f1，且f4小于f3,f3小于f1。仍與圖9c所示的清洗工藝相似，在一個實施例中，在時間段τ1內，電源的頻率先設置為f3,之后為f1，**后為f4...

為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片，其中該半導體晶圓當中預定切割出一第二芯片區域，包含如該***芯片區域相同的該基板結構，該***芯片區域與該第二芯片區域的形狀不同。進一步的，為了使用晶圓級芯片制造技術來加速具有上述基板結構的芯片制作，其中該半導體晶圓當中預定切割出多個芯片區域，該多個芯片區域當中的每一個都包含如該***芯片區域相同的該基板結構，該多個芯片區域當中的每一個芯片區域和該***芯片區域的形狀都相同。根據本申請的一方案，提供一種晶圓制造方法，其特征在于，包含：據所欲切割的多個芯片區域的大小與圖樣，在一晶圓層的一第二表面上涂布屏蔽層，在該多個芯片區域其中的一***芯片區域...

因為清洗液的溫度遠低于氣體和/或蒸汽溫度。在一些實施例中，直流輸出的振幅，可以是正的也可以是負的，可以大于(圖片中未顯示)，等于(如圖16a和16b所示)或小于(如圖16c所示)在τ1時間段內用于在清洗液中制造氣穴振蕩的電源輸出功率p1。圖17揭示了根據本發明的一個實施例的晶圓清洗工藝。該晶圓清洗工藝也與圖7a-7e所示的相類似，除了圖7d所示的步驟7050。該晶圓清洗工藝使電源輸出的相位反相，同時保持在時間段τ1內施加的相同頻率f1，因此，氣泡氣穴振蕩能夠迅速停止。結果，氣泡內氣體和/或蒸汽的溫度開始降低，因為清洗液的溫度遠低于氣體和/或蒸汽溫度。參考圖17所示，在τ2時間段內電源輸...

x0-x)│0x0-1＝sx0p0ln(x0)(2)其中，s為汽缸截面的面積，x0為汽缸的長度，p0為壓縮前汽缸內氣體的壓強。方程式(2)不考慮壓縮過程中溫度增長的因素，因此，由于溫度的增加，氣泡內的實際壓強會更高，實際上由聲壓做的機械功要大于方程式(2)計算出的值。假設聲壓做的機械功部分轉化為熱能，部分轉換成氣泡內高壓氣體和蒸汽的機械能，這些熱能完全促使氣泡內部氣體溫度的增加(沒有能量轉移至氣泡周圍的液體分子)，假設壓縮前后氣泡內氣體質量保持不變，氣泡壓縮一次后溫度增量δt可以用下面的方程式表達：δt＝q/(mc)＝βwm/(mc)＝βsx0p0ln(x0)/(mc)(3)其中，q是...

集成了暗場照明成像，pl成像，共聚焦掃描成像和倏逝場照明移頻成像模式。圖2為一種實施實例俯視效果圖，輸入光源通過位于不同方位的波導端面耦合方式，為圓形波導提供倏逝場照明；圖3為一種實施實例俯視效果圖，輸入光通過環形波導的表面倏逝場耦合進位于中心區域的圓形波導內，提供倏逝場照明；圖4為暗場照明的示例圖，其中a為采用環形光纖束輸出提供暗場照明的示例圖，b為對應暗場照明模塊的垂直截面圖；圖5為移頻照明成像原理示意圖。具體實施方式在下面的描述中闡述了很多具體細節以便于充分理解本發明，但是，本發明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來實施，因此，本發明并不限于下面公開的具體實施例的限制。本文中...