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圖7d揭示了根據本發明的***個實施例的避免氣泡內爆的詳細工藝步驟。工藝步驟從步驟7010開始，在步驟7010中，將超聲波或兆聲波裝置置于晶圓的上表面附近。在步驟7020中，將清洗液，可以是化學液或摻了氣體的水噴射到晶圓表面以填滿晶圓和聲波裝置之間的間隙。在步驟7030中，卡盤攜帶晶圓開始旋轉或振動。在步驟7040中，頻率為f1，功率水平為p1的電源被應用于聲波裝置。在步驟7050中，在氣泡內的氣體或蒸汽的溫度達到內爆溫度ti之前，或在時間τ1達到通過方程式(11)所計算出的τi之前，設置電源輸出為0，因此，由于清洗液的溫度遠低于氣體溫度，氣泡內的氣體和/或蒸汽溫度開始冷卻。在步驟70...

因此需要更長的時間τ1。通過縮短時間τ2來提高氣泡的溫度。通常，在本發明的晶圓清洗工藝中所應用的的超聲波或兆聲波的頻率在。圖23揭示了根據本發明的一實施例的用于執行圖7至圖22所示的晶圓清洗工藝的一示范性的晶圓清洗裝置。該晶圓清洗裝置包括用于承載晶圓23010的晶圓卡盤23014，在清洗過程中由旋轉驅動裝置23016驅動晶圓卡盤23014帶著晶圓23010一起旋轉。該晶圓清洗裝置還包括噴頭23064，用于輸送如清洗化學液或去離子水23060等清洗液至晶圓23010。與噴頭23064相結合的超聲波或兆聲波裝置23062用于傳遞超聲波能或兆聲波能至清洗液。由超聲波或兆聲波裝置23062產生...

f1為超聲波或兆聲波的頻率。根據公式(10)和(11)，內爆周期數ni和內爆時間τi可以被計算出來。表1為內爆周期數ni、內爆時間τi和(δt–δt)的關系，假設ti＝3000℃，δt＝℃，t0＝20℃，f1＝500khz，f1＝1mhz，及f1＝2mhz。表1圖6a至圖6c揭示了在聲波晶圓清洗工藝中**終發生微噴射且工藝參數符合公式(1)-(11)。參考圖6a所示，電功率(p)連續供應至聲波裝置以在清洗液中產生氣穴振蕩。隨著氣穴振蕩的周期數n增加，如圖6b所示氣體或蒸汽的溫度也隨之增加，因此氣泡表面更多的分子會被蒸發至氣泡6082內部，導致氣泡6082的尺寸隨著時間的推移而增加，如圖...

氣泡內氣體或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫或清洗液的溫度。它可以是高于室溫或清洗液溫度的一定溫度。較佳地，該溫度是明顯低于內爆溫度ti。根據公式(8)和(9)，如果已知(δt-δt)，可以計算出內爆時間τi。但通常情況下，(δt-δt)不太容易被計算出或直接得到。然而可以憑經驗直接得到τi的值。圖7e揭示了根據經驗得出內爆時間τi值的流程圖。在步驟7210中，基于表1，選擇五個不同的時間段τ1作為實驗設定(doe)的條件。在步驟7220中，選擇至少是τ1十倍的時間段τ2，在***次測試時**好是100倍的τ1。在步驟7230中，使用確定的功率水平p0運行以上五種條件來分別清洗具有圖案結構的...

集成了暗場照明成像，pl成像，共聚焦掃描成像和倏逝場照明移頻成像模式。圖2為一種實施實例俯視效果圖，輸入光源通過位于不同方位的波導端面耦合方式，為圓形波導提供倏逝場照明；圖3為一種實施實例俯視效果圖，輸入光通過環形波導的表面倏逝場耦合進位于中心區域的圓形波導內，提供倏逝場照明；圖4為暗場照明的示例圖，其中a為采用環形光纖束輸出提供暗場照明的示例圖，b為對應暗場照明模塊的垂直截面圖；圖5為移頻照明成像原理示意圖。具體實施方式在下面的描述中闡述了很多具體細節以便于充分理解本發明，但是，本發明還可以采用其他不同于在此描述的其他方式來實施，因此，本發明并不限于下面公開的具體實施例的限制。本文中...

大于或等于在該中心凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該蝕刻步驟進行一部份后，再將該屏蔽層覆蓋到該***內框結構區域，使得該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內框結構區域的該***表面至該第二表面的距離。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該蝕刻步驟進行一部份后，再將該屏蔽層覆蓋到該第二內框結構區域，使得在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該第二內框結構區域的該***表面至該第二表面的距離。在一實施例中，為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片，其中該多個芯...

如果能夠減少該晶圓層120的電阻值，就可以減少圖1與圖2的電流路徑的總電阻值。此種改進能減少消耗功率，降低熱耗損，增進芯片的使用壽命。想要減低該晶圓層120的電阻值，可以減少該晶圓層120的厚度。但如前所述，如何在減少該晶圓層120的厚度之后，還能維持相當的結構強度，以便抗拒應力與/或熱應力造成的損害。本申請提出的解決方案之一，是至少在芯片的邊緣處具有較厚的晶圓層，但是降低在芯片中間有半導體元器件之處的晶圓厚度。如此一來，可以在降低該晶圓層120的電阻值的同時，可以維持相當的結構強度。請參考圖3所示，其為根據本申請一實施例的半導體基板的結構300的一剖面示意圖。該結構300依序包含一半...

氣泡內氣體或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫或清洗液的溫度。它可以是高于室溫或清洗液溫度的一定溫度。較佳地，該溫度是明顯低于內爆溫度ti。根據公式(8)和(9)，如果已知(δt-δt)，可以計算出內爆時間τi。但通常情況下，(δt-δt)不太容易被計算出或直接得到。然而可以憑經驗直接得到τi的值。圖7e揭示了根據經驗得出內爆時間τi值的流程圖。在步驟7210中，基于表1，選擇五個不同的時間段τ1作為實驗設定(doe)的條件。在步驟7220中，選擇至少是τ1十倍的時間段τ2，在***次測試時**好是100倍的τ1。在步驟7230中，使用確定的功率水平p0運行以上五種條件來分別清洗具有圖案結構的...

圖11a所示的實施例是圖8a所示的結構800，因此使用了金屬層810與晶圓層820的符號。但本領域普通技術人員可以理解到，剖面1100可以適用于結構900或1000，金屬層810可以代換為金屬層1010。先前提到過，本申請并不限定內框結構的形狀。舉例來說，內框結構可以是x字型，還可以是v字型，也可以是井字型，也就是兩組互相垂直的并行線結構。在圖11a所示的實施例當中，晶圓層820的外緣形狀是正方形，用白色來表示。晶圓層820的四個邊框的820a寬度相等。在金屬層810a的內部，還有晶圓層的內框結構820b。該內框結構820b的內部尚有金屬層810b。圖11a所示晶圓層820的邊框結構8...

大于或等于在該中心凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該蝕刻步驟進行一部份后，再將該屏蔽層覆蓋到該***內框結構區域，使得該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內框結構區域的該***表面至該第二表面的距離。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該蝕刻步驟進行一部份后，再將該屏蔽層覆蓋到該第二內框結構區域，使得在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該第二內框結構區域的該***表面至該第二表面的距離。在一實施例中，為了盡可能地利用晶圓的面積來制作不同芯片，其中該多個芯...

在步驟33050中，待氣泡內的溫度降至一定程度后，聲波電源再次被設置為頻率為f1及功率為p1。在步驟33060中，將檢測到的斷電時間與預設時間τ2進行比較，如果檢測到的斷電時間短于預設時間τ2，則關閉超聲波或兆聲波電源并發出報警信號。在步驟33070中，檢查晶圓的清潔度，如果晶圓尚未清潔到所需程度，則重復步驟33010-33060。或者，可能不需要在每個周期內檢查清潔度，取而代之的是，使用的周期數可能是預先用樣品晶圓通過經驗確定。圖34揭示了根據本發明的另一個實施例的晶圓清洗工藝的流程圖。該晶圓清洗工藝從步驟34010開始，首先向晶圓和超聲波或兆聲波裝置之間的間隙施加清洗液。在步驟34...

其中該中心凹陷區域是矩形。進一步的，為了配合大多數方形芯片的形狀，其中該中心凹陷區域是方形。進一步的，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。進一步的，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***環狀凹陷區域或該中心凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。進一步的，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內框結構區域的該***表面至該第二表面的距離。進一步的...

半導體晶圓制造材料和晶圓制造產能密不可分，近年隨著出貨片數成長，半導體制造材料營收也由2013年230億美元成長到2016年的242億美元，年復合成長率約。從細項中可看出硅晶圓銷售占比由2013年35%降到2016年的30%。與先進制程相關的光阻和光阻配套試劑(用來提升曝光質量或降低多重曝光需求的復雜度)，以及較先進Wafer后段所需的CMP制程相關材料銷售占比則提升，可見這幾年材料需求的增長和先進制程的關聯性相當高。圖：2013年與2016年晶圓廠制造材料分占比此外，從2016年晶圓制造材料分類占比可看出，硅晶圓占比比較大為30%，隨著下游智能終端機對芯片性能的要求不斷提高，對硅晶圓...

為了能將花籃內部的圓形空間靈活地分隔為半圓形、不同角度扇形等不同形狀，以適用于相應形狀的晶圓，推薦地，該治具還包括一組豎直擋板；所述平放花籃的鏤空側壁內緣及相應位置的圓形底盤上設置有一系列用于固定所述豎直擋板的卡槽，豎直擋板與相應的卡槽配合可將平放花籃內的空間劃分為不同角度的扇形空間。進一步推薦地，所述豎直擋板上設置有一組通孔，以便清洗液在所分隔的不同空間中流動。為了適用于不同規格的晶圓清洗，推薦地，所述一組平放花籃中包括多個具有不同半徑圓形底盤的平放花籃。推薦地，所述提把的上端帶有掛鉤，以便在清洗時將整個治具懸掛在清洗槽邊緣或掛桿上。為了便于公眾理解，下面通過一個實施例并結合附圖來對...

所述動力腔26內設有可控制所述升降塊15間歇性往返升降，來達到連續切割狀態的動力機構103，所述切割腔27靠上側位置設有兩個左右對稱，且能用來冷卻所述切割片50的海綿52，所述切割腔27的靠上側位置左右兩側連通設有冷卻水腔14，是冷卻水腔14的上側連通設有傳動腔55，所述傳動腔55內設有可控制所述海綿52在所述切割片50上升時抵接所述切割片50，達到冷卻效果的傳動機構104，所述傳動機構104與所述動力機構103聯動運轉。另外，在一個實施例中，所述步進機構101包括固設在所述滑塊47底面上的步進塊37，所述步進塊37位于所述從動腔62內，所述步進塊37的底面固設有***齒牙38，所述從...

聲壓pm朝膨脹方向拉伸氣泡，如圖5c所示。因此，負的聲壓pm也對周圍的液體做部分功。由于共同作用的結果，氣泡內的熱能不能全部釋放或轉化為機械能，因此，氣泡內的氣體溫度不能降低到**初的氣體溫度t0或液體溫度。如圖6b所示，氣穴振蕩的***周期完成后，氣泡內的氣體溫度t2將在t0和t1之間。t2可以表達如下：t2＝t1-δt＝t0+δt-δt(5)其中，δt是氣泡膨脹一次后的溫度減量，δt小于δt。當氣穴振蕩的第二周期達到**小氣泡尺寸時，氣泡內的氣體或蒸汽的溫度t3為：t3＝t2+δt＝t0+δt-δt+δt＝t0+2δt-δt(6)當氣穴振蕩的第二周期完成后，氣泡內的氣體或蒸汽的溫度...

本發明涉及半導體技術領域，具體為一種可防熱變形的半導體晶圓切割裝置。背景技術：目前，隨著科技水平的提高，半導體元件被使用的越來越***，半導體在制作過程中，其中一項工序為把硅錠通過切割的方式制作成硅晶圓，一般的硅晶圓切割裝置，是通過電機螺桿傳動送料的，這種送料方式會使硅錠的移動不夠準確，導致每個晶圓的厚度不均勻，并且螺桿長時間連續工作容易發***熱扭曲變形，**終導致切割位置偏移，另外，切割片在連續切割時，容易發熱，導致晶圓受熱變形，但由于晶圓很薄，無法用直接噴冷卻水的方式冷卻，會導致晶圓在切割過程中被沖擊變形。技術實現要素：本發明的目的在于提供一種可防熱變形的半導體晶圓切割裝置，用于...

其中該中心凹陷區域是方形。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***環狀凹陷區域或該中心凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內框結構區域的該***表面至該第二表面的距離。在一實施例中，為了節省金屬層的厚度以便節省成本，其中該第四表面...

本申請還提供具有上述基板結構的半導體晶圓，以及制作上述基板結構的晶圓制造方法。根據本申請的方案，提供具有邊框結構的基板結構、半導體晶圓、以及晶圓制作方法。根據本申請的一方案，提供一種承載半導體組件的基板結構，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對應的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區域，該中心凹陷區域位于該第二表面當中，使得該晶圓層的一邊框結構區域環繞在該第二表面周圍；以及一金屬層，具有相對應的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。進一步的，為了彌補較薄晶圓層的結構強度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環狀凹...

金屬層310可以代換為金屬層510。圖6所示剖面600的**是晶圓層320。該結構300所形成的芯片可以是矩形，也可以是正方形。在該晶圓層320的中間是該金屬層310。該金屬層310的上下軸長度611與左右軸長度612可以是相同，也可以不同。當兩者相同時，該金屬層310的剖面是正方形。該金屬層310剖面與該晶圓層320外緣之間，是該晶圓層320用于包圍該金屬層310的四個邊框。該四個邊框的厚度可以相同，也可以不同。舉例來說，相對于上下外緣的厚度621與623可以相同，相對于左右外緣的厚度622與624可以相同。但厚度621與622可以不同。本領域普通技術人員可以透過圖6理解到，本申請并...

可以利用多重的內框結構，例如回字型的內框結構來加強結構強度。所謂的回字型，就是內框內還有內框的結構。在一實施例當中，多重的內框結構可以是同心的，以便簡化設計。在另一實施例當中，多重的內框結構的框的寬度是相同的。在更一實施例當中，大內框結構與小內框結構的形狀可以是相應的。舉例來說，大內框結構與小內框結構的形狀可以是相同的，但大小不同。框的寬度可以與內框結構的大小成比例。在一實施例當中，可以具有兩個以上的多重內框結構。請參考圖11b所示，其為根據本申請一實施例的半導體基板的結構的剖面1100的一示意圖。圖11b所示的實施例，為回字型的內框結構，就是內框內還有內框的多重內框結構。本申請所欲保...

因此晶圓1010須旋轉以在整個晶圓1010上接收均勻的聲波能量。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個聲波裝置1003，但是在其他實施例中，也可以同時或間歇使用兩個或多個聲波裝置。同理，也可以使用兩個或多個噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器；圖2b示意了矩形的傳感器；圖2c示意了八邊形的傳感器；圖2d示意了橢圓形的傳感器；圖2e示意了半圓形的傳感器；圖2f示意了1/4圓形的傳感器；圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004...

對比臺積電（50%）和中芯國際（25%）的毛利率發現前者是后者的兩倍之多。因此，大陸半導體制造業，在經歷開荒式的野蠻增長后，未來需要精耕細作，通過良率的提升來增加國際競爭力。臺積電和中芯國際毛利率對比圖但是同樣是先進制程，臺積電和中芯國際良率差別如此之大，究竟是為什么呢？檢測設備能在其中發揮什么作用呢？在晶圓的整個制造過程中，光刻步驟越多造成的缺陷就越多，這是產生不良率的主要來源。因此即使是使用相同的阿斯麥的EUV光刻機，不同晶圓廠制造良率也會存在差別。光刻機對晶圓圖形化的過程中，如果圖片定位不準，則會讓整個電路失效。因此，制造過程的檢測至關重要。晶圓檢測設備主要分為無圖案缺陷檢測設備...

半導體晶圓制造材料和晶圓制造產能密不可分，近年隨著出貨片數成長，半導體制造材料營收也由2013年230億美元成長到2016年的242億美元，年復合成長率約。從細項中可看出硅晶圓銷售占比由2013年35%降到2016年的30%。與先進制程相關的光阻和光阻配套試劑(用來提升曝光質量或降低多重曝光需求的復雜度)，以及較先進Wafer后段所需的CMP制程相關材料銷售占比則提升，可見這幾年材料需求的增長和先進制程的關聯性相當高。圖：2013年與2016年晶圓廠制造材料分占比此外，從2016年晶圓制造材料分類占比可看出，硅晶圓占比比較大為30%，隨著下游智能終端機對芯片性能的要求不斷提高，對硅晶圓...

也不限定這些芯片采用同一種剖面設計，更不限定使用同一種基板結構。在執行晶圓級芯片封裝時，可以根據同一片晶圓上所欲切割的芯片的設計，來對該片晶圓執行特定的制程。請參考圖15所示，其為根據本申請一實施例的晶圓制作方法1500的前列程示意圖。圖15所示的晶圓制作方法1500可以是晶圓級芯片封裝方法的一部分。該晶圓級芯片封裝方法可以是先在一整片晶圓上進行制作、封裝與測試，然后經切割后，再將芯片放置到個別印刷電路板的過程。本申請所欲保護的部分之一是在封裝測試之前，針對于基板結構的制作方法。當然本申請也想要保護一整套的晶圓級芯片封裝方法。圖15的晶圓制作方法1500所作出的芯片，可以包含圖3~14...

目的是使得氣泡內氣體和/或蒸汽的溫度降至接近室溫t0。圖12a-12b揭示了根據本發明的另一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。本實施例的聲波晶圓清洗工藝與圖10a-10c所示的實施例的差異*在步驟10050。在本實施例的聲波晶圓清洗工藝中，在時間段τ2內，電源的頻率增至f2，功率水平p2基本上等于功率水平p1。圖13a-13b揭示了根據本發明的另一個實施例的聲波晶圓清洗工藝。本實施例的聲波晶圓清洗工藝與圖10a-10c所示的實施例的差異*在步驟10050。在本實施例的聲波晶圓清洗工藝中，在時間段τ2內，電源的頻率增至f2，功率水平從p1降至p2。圖14a-14b揭示了根據本發明的另一個實施例...

因為清洗液的溫度遠低于氣體和/或蒸汽溫度。在一些實施例中，直流輸出的振幅，可以是正的也可以是負的，可以大于(圖片中未顯示)，等于(如圖16a和16b所示)或小于(如圖16c所示)在τ1時間段內用于在清洗液中制造氣穴振蕩的電源輸出功率p1。圖17揭示了根據本發明的一個實施例的晶圓清洗工藝。該晶圓清洗工藝也與圖7a-7e所示的相類似，除了圖7d所示的步驟7050。該晶圓清洗工藝使電源輸出的相位反相，同時保持在時間段τ1內施加的相同頻率f1，因此，氣泡氣穴振蕩能夠迅速停止。結果，氣泡內氣體和/或蒸汽的溫度開始降低，因為清洗液的溫度遠低于氣體和/或蒸汽溫度。參考圖17所示，在τ2時間段內電源輸...

結構500所包含的該金屬層510的第四表面514并不是像該結構400所包含的該金屬層310的第四表面314一樣是平面。第四表面514的剖面相應于該金屬層的第三表面513的剖面。該金屬層510的第四表面514與該晶圓層320的***表面321的**短距離，要小于該金屬層310的第四表面314與該晶圓層320的***表面321的**短距離。由于該結構500的金屬層510的大部分比該結構400的金屬層310的大部分較薄，因此可以節省金屬本身的成本，也可以節省制作該金屬層510的步驟的成本。請參考圖5b所示，其為根據本申請一實施例的半導體基板的結構500的剖面示意圖。圖5b所示的實施例是圖5a...

清洗液中的氣泡可以在每次***時段的清洗后充分冷卻，以避免損傷晶圓。根據以下實施例的詳細描述，本發明的其他方面、特征及技術對于本領域的技術人員將是顯而易見的。附圖說明構成本說明書一部分的附圖被包括以描述本發明的某些方面。對本發明以及本發明提供的系統的組成和操作的更清楚的概念，通過參考示例將變得更加顯而易見，因此，非限制性的，在附圖中示出的實施例，其中類似的附圖標記(如果它們出現在一個以上的視圖)指定相同的元件，通過參考這些附圖中的一個或多個附圖并結合本文給出的描述，可以更好地理解本發明，應當注意，附圖中示出的特征不是必須按比例繪制。圖1a至圖1b揭示了根據本發明的一個實施例的使用超聲波...

以防止氣泡長大到一個臨界尺寸，從而堵住清洗液在通孔或槽中的交換路徑。圖20a至圖20d揭示了根據本發明的一個實施例的聲波晶圓清洗工藝有效清洗具有高深寬比的通孔或槽等特征。該晶圓清洗工藝限制由聲能引起振蕩產生的氣泡的尺寸。圖20a揭示了在時間段τ1內設置功率水平為p1及在時間段τ2內關閉電源的電源輸出波形圖。圖20b揭示了對應每個氣穴振蕩周期的氣泡體積的曲線圖。圖20c揭示了在每個氣穴振蕩周期氣泡尺寸增大。圖20d揭示了氣泡的總體積vb與通孔、槽或其他凹進區域的體積vvtr的比值r的曲線圖。根據r＝vb/vvtr＝nvb/vvtr這里，氣泡的總體積vb與通孔、槽或其他凹進區域的體積vvt...