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探針臺是半導體（包括集成電路、分立器件、光電器件、傳感器）行業重要的檢測裝備之一，其普遍應用于復雜、高速器件的精密電氣測量，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。通過與測試儀器的配合，探針臺將參數特性不符合要求的芯片記錄下來，在進入后序工序...

固有頻率，顧名思義，為系統本身發生的振動的頻率。數值上來看，固有頻率等于共振頻率。考慮物塊與彈性懸臂梁組成的系統，固有頻率取決于兩個因素——物塊質量，以及充當彈簧的彈性懸臂梁的彈性系數。質量減小或彈性系數減小可增大固有頻率;質量增大或懸臂梁彈性系數增大可降低固...

光學平臺平面度，對于隔振性能，沒有任何影響，甚至若為了追求高平面度，往往會去除掉光學平臺的隔振性能，原因如下：我們知道，光學平臺臺面，若為達到高平面度，通常需要反復磨削，在加工過程中，多次磨削容易使材料產生形變，為了減少形變，通常要加厚臺面，但我們通過振動恢復...

以往如果需要測試電子元器件或系統的基本電性能(如電流、電壓、阻抗等)或工作狀態，測試人員一般會采用表筆去點測。隨著電子技術的不斷發展，對于精密微小(納米級)的微電子器件，表筆點到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應運而生，利用高精度微探針將被測原件...

光學平臺測量方法：使用脈沖錘對平臺或面包板的表面施加一個已測量的外力，并將一個傳感器貼合在平臺或面包板表面對合成振動進行測量。探測器發出的信號通過分析儀進行讀取，并用于產生頻率響應譜（即柔量曲線）。在光學平臺的研發過程中，對平臺表面上很多點的柔量曲線進行記錄；...

光學平臺很主要的一個目標是消除平臺上任意兩個以上部件之間的相對位移。大多數光學實驗都對系統穩定性有較高的要求。各種因素造成的振動會導致儀器測量結果的不穩定性和不準確性，所以光學平臺顯得十分重要。光學平臺隔振原理：振動來源主要分為來自系統之外的振動和系統內部的振...

安裝高速照明板安裝好高速照明板,垂直安裝氣浮光學平臺頂部架子,并準備好對應的偏光鏡可直接選擇光線是否充足,偏光鏡是否需要進行更換,發光二極管至需要注意光線是否充足。先說說發光二極管的安裝說起發光二極管,大家有興趣可以去看看《發光二極管安裝攻略》、《發光二極管全...

固有頻率還分為水平方向和豎直方向，但通常來說豎直方向的固有頻率對整體隔振性能的影響，起到決定性作用，水平方向的固有頻率指標通常用于參考。振動恢復時間（Damping Settling Time）:也叫衰減周期，是指：某一點上開始振動到恢復到初始狀態所需要的很短...

探針測試臺x-y工作臺的分類：縱觀國內外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結構的不同可為兩大類，即：...

探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。普遍應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。探針臺分類：探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動。從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探...

x-y工作臺的維護與保養：無論是全自動探針測試臺還是自動探針測試臺，x-y向工作臺都是其很中心的部分。有數據表明探針測試臺的故障中有半數以上是x-y工作臺的故障，而工作臺故障有許多是對其維護保養不當或盲目調整造成的，所以對工作臺的維護與保養就顯得尤為重要。現在...

全自動探針臺相比手動探針臺和自動探針臺兩種添加了晶圓材料處理搬運單元（MHU）和模式識別（自動對準）。負責晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試。可以24小時連續工作，通常用于芯片量產或有一些特殊要求如處理薄晶圓、封裝基板等。全自動探針臺價格...

對于平臺上的光學元件來說，平面度引起的高度差，通常可以忽略不計，若確有必要考慮高度差，則完全可以通過勤確精密調整的位移臺來實現。綜上所述，光學平臺的平面度，同光學平臺的隔振性能不相關，只能做為光學平臺的一個輔助指標，供參考。振動物體離開平衡位置的距離叫振動的振...

探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導體測試系統配合來測試芯片/半導體器件。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查，也可以很復雜，包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允...

簡單的光學平臺保養說明書：如果光學平臺環境溫度過高,溫差過大,出現玻璃收縮,也可以立即用油封然后用砂紙輕輕磨平不說了，想要光學顯微鏡繼續吊打大家，首先要把離鏡頭越近的光學玻璃考慮在內,切勿安裝在鏡頭上,可以安裝在玻璃的側面,再做檢查。光學玻璃的結構強度不允許受...

滾珠絲杠副和導軌結構x-y工作臺的維護與保養：由于運動部分全部采用滾動功能部件，所以具有傳動效率高、摩擦力矩小，使用壽命長等特點。這種結構的工作臺應放置在溫度23±3℃，濕度≤70％，無有害氣體的環境中，滾珠絲杠、直線導軌應定期加精密儀表油，但不可過多，值得指...

晶圓測試是在半導體器件制造過程中執行的一個步驟。在此步驟中，在將晶圓送至芯片準備之前執行，晶圓上存在的所有單個集成電路都通過對其應用特殊測試模式來測試功能缺陷。晶圓測試由稱為晶圓探針器的測試設備執行。晶圓測試過程可以通過多種方式進行引用：晶圓終端測試(WFT)...

目前精密光學儀器產品種類繁多,是為了在重復測量過程中對產品的每一步光路進行精確計算,保證一切不可修改并可重復執行的數據上報數據，精密光學儀器的工作原理主要是通過光學儀器的光學原理實現的。光學儀器經受適當的反射光和反射角,獲得光路模擬圖像，這些圖像是光學儀器可讀...

定子在加工過程中生產廠家根據不同的設計要求如分辨力等，用機加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個線槽，線槽間的距離即稱為平面電機的齒距，而定子則按不同的細分控制方式，按編制好的運行程序借助于平面定子和動子之間的氣墊才能實現步進運動。對定子的損傷將直接影響工...

探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。普遍應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。探針臺分類：探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動。從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探...

對于當今的多芯片（multi-die packages）封裝，例如堆疊芯片級封裝(SCSP)或系統級封裝(SiP)–開發用于識別已知測試芯片(KTD)和已知良好芯片(KGD)的非接觸式(RF)探針對提高整體系統產量至關重要。晶圓探針臺還可以在晶圓劃片線上執行任...

探針臺工作臺由兩個步進電機分別驅動x、y向精密滾珠絲杠副帶動工作臺運動，導向部分采用精密直線滾動導軌。由于運動部分全部采用滾動功能部件，所以具有傳動效率高、摩擦力矩小，使用壽命長等特點。這種結構的工作臺應放置在溫度23±3℃，濕度≤70%，無有害氣體的環境中，...

半自動型：chuck尺寸800mm/600mm；X,Y電動移動行程200mm/150mm；chuck粗調升降9mm，微調升降16mm；可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡；針座擺放個數6～8顆；顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"；可搭配P...

探針（探針卡）：待測芯片需要測試探針的連接，才能與測試儀器建立連接。常見的有普通DC測試探針、同軸DC測試探針、有源探針和微波探針等。探針頭插入單個探針臂并安裝在操縱器上。探針尖銳端尺寸和材料取決于被探測特征的尺寸和所需的測量類型。探針尖直接接觸被測件，探針臂...

有數據表明探針測試臺的故障中有半數以上是x-y工作臺的故障，而工作臺故障有許多是對其維護保養不當或盲目調整造成的，所以對工作臺的維護與保養就顯得尤為重要。現在只對自動探針測試臺x-y工作臺的維護與保養作一介紹。平面電機x-y步進工作臺的維護與保養：平面電機由定...

探針測試臺x-y工作臺的分類：縱觀國內外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結構的不同可為兩大類，即：...

振動恢復時間是某一點上開始振動到恢復到初始狀態所需要的很短時間。若要縮短光學平臺的振動恢復時間，通常有兩個辦法：增大彈簧的彈性系數k。對于阻尼隔振平臺，可以換用材質較硬的阻尼材料；對于充氣平臺，可以適度增加空氣壓力；控制光學平臺臺面的質量。在不影響剛度的前提下...

探針臺的作用是什么？探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導體測試系統配合來測試芯片/半導體器件。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查，也可以很復雜，包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試...

晶圓級半自動面內磁場探針臺詳細參數：垂直或面內磁場探針臺，通用性設計；容納12寸晶圓，且向下兼容8寸、6寸、碎片；兼容4組探針（RF或DC測試）；提供Z軸探針平臺快速升降功能，實現高效測試；磁場強度≥330 mT;直流探針（4組）或微波探針（4組）；XY電控行...

精密光學平臺的功能介紹?小編先給大家舉個例子，在好萊塢電影里面你可以看到攝影機、巨型鏡頭、cgi仿真動畫、3d渲染、vr虛擬現實等，當前基于dem的光路模擬技術已經取得了很大的發展。在電影光學設計中,對復雜線路的測量、仿真,isi等檢測系統以及光電模塊的檢測，...