光學平臺的硬重比對于其共振頻率有著重要的影響。較高的硬重比可以提高平臺的共振頻率,從而降低其在外界影響下的振動。而且在外力作用下,具有較高硬重比的平臺可以在小的重量下產生小的變形,增加系統內部的剛性。內部采用蜂窩狀支撐結構的光學平臺可以充分的提高硬重比,達到提...
自動耦合光纖耦合系統徹底解決自動系統對操作熟練程度:系統采用多軸自動調節,同時,還解決了初始光自動查找的難題,使得員工比較容易上手。在系統中,采用了我們自己的**傳感器技術,以保證期間的間距,并確保不會出現期間的誤碰撞。如果需要,可以增加自動端面調平行的功能,...
探針卡常見故障分析及維護方法:芯片測試是IC制造業里不可缺少的一個重要環節。芯片測試是為了檢驗規格的一致性而在硅片集成電路上進行的電學參數測量。硅片測試的目的是檢驗可接受的電學性能。測試過程中使用的電學規格隨測試的目的而有所不同。如果發現缺陷,產品小組將用測試...
通常,參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點,到達被測器件,并后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意,問題可能...
探針臺的日常維護:無論是全自動探針測試臺還是自動探針測試臺,向工作臺都是其主要的部分。有數據表明探針測試臺的故障中有半數以上是工作臺的故障,而工作臺故障有許多是對其維護保養不當或盲目調整造成的,所以對工作臺的維護與保養就顯得尤為重要。平面電機由定子和動子組成,...
光學平臺中提到的大相對位移有別于精密位移臺中的相關概念,通常光學平臺的大相對位移指標,是指在特定的測試條件和環境中,臺面本身的變形量。比如在一個隔離了外界振動的環境中,放置負載和空載情況下,通過平面度檢測儀測量臺面的變形。臺面的尺寸,通常取300mm×300m...
探針卡上有細小的金屬探針附著,通過降低探針高度或升高芯片的高度使之和芯片上的焊盤接觸,可以把卡上的線路和芯片的結合焊盤連起來。之后,運行測試程序檢驗芯片合格與否。測試完成后,探針卡于芯片分離,如果芯片不合格,則會在其**做上標記,然后圓片移動到下一個芯片的位置...
我們提供的光學平板采用好的鋁材制造。與鋼材相比,鋁材硬重比大,有一-定的抗振性,溫度傳導性好,不良環境中溫度形變小,陽極氧化后美觀,耐磨,但是鋁材的剛性較差,無法承載較大的重里。因此一般用于承載較小的系統種。而且不宜懸空支撐。光學實驗平臺系統由實驗平臺主體、多...
我們公司研發的光纖耦合系統中通常存在大氣擾動、環境振動、溫度和重力變化以及器件應力釋放等動態因素引起的光束抖動和光軸偏離,當光斑偏移光纖的中心大于模場直徑2w0時,空間光將無法耦合進入單模光纖。本發明系統校正后的空間光與光纖光軸的對準偏差<0.1w0,校正精度...
光纖耦合系統的功能:1、借助自動協同仿真求解器管理取得可靠的結果。光纖耦合系統會同步參與多物理場仿真的求解器,并可進行求解器任務執行,同時執行收斂檢查、重啟、HPC部署和錯誤處理等任務。根據所需詳細程度的不同,可以實現穩態/靜態、瞬態和這些類型的組合分析。先進...
光學平臺儀器臺面上布滿成正方形排列的工程螺紋孔,用這些孔和相應的螺絲可以固定光學元件。這樣,當你完成光學設備的搭建,系統基本不會受外來擾動而產生變化。即使按動臺面,它也會因為氣囊而自動回復水平。研發的光學平臺具有快速自動水平,自動充氣,隔振性能好,噪聲低等特點...