深圳市斯邁爾電子有限公司2025-06-30

MV-SC3050XM 的 6μs~1sec 寬范圍曝光時間調(diào)節(jié)，通過硬件快門控制與軟件智能調(diào)節(jié)，可準確適配從高速強光到弱光靜態(tài)的全場景工業(yè)檢測需求： 高速動態(tài)強光場景（6μs~1ms） 短曝光時間適用于捕捉高速運動物體，避免運動模糊。在 3C 產(chǎn)品的貼片機工序中，6μs 曝光可凍結(jié) 0.1mm 級元件的高速位移（速度 ≤5m/s），確保芯片引腳焊接質(zhì)量檢測無拖影；在汽車輪轂高速旋轉(zhuǎn)檢測中，100μs 曝光配合紅色光源，可清晰捕捉輪轂表面 0.05mm 級劃痕。此區(qū)間曝光時間配合 40fps 幀率，每分鐘可完成 2400 件元件的動態(tài)檢測，適用于傳送帶速度 ≤3m/s 的產(chǎn)線。 中速常規(guī)光照場景（1ms~100ms） 該區(qū)間適用于大多數(shù)工業(yè)流水線的常態(tài)檢測。在食品包裝的高速分揀線中，5ms 曝光配合白色光源，可同步完成包裝完整性（封口檢測）與生產(chǎn)日期識別，每分鐘處理 300 包產(chǎn)品，檢測準確率達 99.5%；在電子元件的 AOI 檢測中，20ms 曝光優(yōu)化焊點與基板的灰度對比，使 0.1mm 的焊錫偏移可被準確識別。 弱光靜態(tài)精密場景（100ms~1sec） 長曝光時間適用于低光環(huán)境或靜態(tài)精密檢測。在食品冷庫（-5℃，光照度 ≤50lux）的包裝檢測中，1sec 曝光配合藍色光源，可提升暗部細節(jié)亮度，使透明包裝內(nèi)的異物檢測率提升至 98%；在半導體晶圓的顯微檢測中，500ms 曝光配合綠色光源，可增強晶圓表面缺陷與基底的對比度，識別 0.02mm 級的劃痕或污點。 智能曝光調(diào)節(jié)機制 傳感器支持自動曝光（AE）與區(qū)域曝光（ROI 曝光）功能：自動曝光模式下，內(nèi)置光強傳感器實時監(jiān)測環(huán)境亮度，動態(tài)調(diào)整曝光時間，在明暗突變場景中確保檢測穩(wěn)定性；區(qū)域曝光可針對圖像特定區(qū)域單獨設置參數(shù)，如在汽車儀表盤檢測中，對反光刻度區(qū)域設置短曝光，對背光指針區(qū)域設置長曝光，實現(xiàn)全畫面均勻檢測。

本回答由 深圳市斯邁爾電子有限公司 提供