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在線測試儀ICT測試治具

來源: 發布時間:2021-09-27

ict里面會包含如下三個測試項目。OpenTest:開路測試是要測出待測電路板上預期(Expected)短路的元件是否因錯件或漏件而造成開路。ShortTest:短路測試是要測試出待測電路板上不被預期的(Unexpected)短路現象。MDATest:ManufacturingDefectsAnalysis工程缺陷分析,電阻、電容、電感等被動元器件的量測。提到MDAtest,我其實有幸見識到華碩電腦的MDAtest,華碩是單獨測試mda的,也是通過壓合留有卡槽的載板使頂針接觸板子測試點。ICT的范圍及特點檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網絡的連接情況。接駁臺整機技術特點:設置有經濟運行,過板自動。在線測試儀ICT測試治具

德智電子在線測試儀WINDOWSXP版軟件特性品質異常即時警報系統系統可以設定于同一DUT不良連續發生時可立即示警,俾使品質異常之狀況可被及時處理及預防。報表統計系統自動統計測試結果資料,并顯示圖表,及多種相關生產及時所需資料。如零件測試分布圖、IC測試分布圖、日報、期報、針點問題分析、不良率排行表等功能。遠端監控系統(ICTConsole)通過網絡管理可于遠端即時取得生聯機測試資料,測試狀況等。可即時分析問題,調整制程,追蹤不良品產生的原因,即時做好源頭管理。上海ICT功能檢測設備測試部門往往對于靈活配置、設計緊湊且功能完備的測試設備青睞有加。

ICT流程直通模式: ⑴.產品經過波峰焊,流到皮帶線,等待接駁臺要板; ⑵.接駁臺通過產品檢測光電判斷是否有產品,若無產品,則向前站皮帶線要板,產品流入接駁臺,等待后站測試機要板信號,然后阻擋氣缸下降,產品流入測試機,阻擋氣缸上升。 ⑶. 產品流入測試機,到達測試位時減速至停止到位,軌道氣缸下降,測試氣缸下降,進行測試,測試完成之后記憶當前產品測試的Pass/Fail結果,測試氣缸上升,軌道氣缸上升,阻擋氣缸打開,產品流出至分選機,并告知當前產品測試結果; ⑷. 產品流入分選機,判斷測試結果 若是Pass產品,則流出至后段設備,生產完成; 若是Fail產品,則分選平臺上升,當分選平臺滿料時,則發出聲光報警,提示人員手動操作。

IC燒錄程序功能說明 隨著MCU,CPLD,DSP,FPGA,FLASH等器件在 產品上的大量應用,每個產品都需要對上面的IC進行燒錄,蘇州德智電子有限公司在PTI816S上也集成了IC的燒錄,可 以讓客戶把ICT測試和IC燒錄兩個工位集成到一個工位上來,達 到減員生效的效果。 二:功能參數: 1,目前標配可以支持多八連片燒錄 2,支持多連片同時燒錄或單片順序燒錄 3,燒錄更多連板可以擴展外部模塊, 4,支持市面上大部分51,PIC ARM,CPLD,DSP,EPROM,FLASH的燒錄, 5,支持市面上大部分通用燒錄器接口,如南京西 爾特,洛浦,Phyton,Elnec DATA I/O,PM3,PM4, DEDIPROG, DATAMAN 6,靈活定義啟動測試,結果信號電平,靈活定義 延時時間。 在線自動測試系統都是由“信號采集-信號調理-數據處理-人機接口-報表輸出”組成。

維修輔助功能 (Board View) 強大的基板不良組件實體顯示之板示功能,不良板組件顯示,放大,旋轉,快速尋找有問題的零件位置,或有問題的電路節點。加強維修的方便性,省去人力尋找問題的時間。是維修工作站人員維修之利器。 測試程序自動產生功能 ATPD 程序匯入功能,可直接匯入如Fabmaster及TRI、JET、OKANO、TESTCON、TCO-5等廠牌的測試程序直接使用。 自動學習功能,可針對O/S、 組件、 IC、 TAJ、 ECJ各組件自動學習,做成測試程序。其學習能力高達95% 以上,并且可對單一步驟自動學習 / 隔離,大幅削減測試程序制作轉換所需時間。 簡明測試畫面,確實掌握測試信息 測試畫面可即時顯示開短路不良、組件不良及IC不良等狀況,測試紀錄及組件不良排行狀況在畫面下方顯示;使用者亦可依需要切換成顯示開短路即組件不良的詳細資料。 AOI是表面的外觀檢查。智能ICT儀器檢測設備

在線的ICT和FCT自動化測試系統越來越受到市場關注。在線測試儀ICT測試治具

ICT使用于SMT制程的后端,通常是SMT線的后面(Reflow回流焊制程之后),經過ICT的測試將SMT制程不良篩選出來,并且可提前警示出SMT生產良率是否有異常。 由于ICT需對PCBA板上不同位置的電子元件進行測試,因此對應不同產品必須制作ICT測試治具來搭配,而測試治具因ICT廠牌、機型不同又有真空式、氣壓式的型式,一般使用不同規格數量的探針(尺寸、形狀、直徑)來接觸電路板或電子元件,所以PCBA板上的電子元件密度過高而無空間可布針時即可能無法使用ICT,因此ICT還是有使用的條件限制的。 ICT測試治具因電子產品的元件數量高低、分布位置的差異,其探針的數量、密度亦隨的而異,在探針接觸電路板進行測試時,可能會電路板產生超過允許范圍的 壓力(應力)而造成電路板的變形,這樣將可能導致PCBA板的損壞隱患,因此導入ICT測試治具前通常需要進行應力應變測試,使應變值下降到允許的安全范圍內。 在線測試儀ICT測試治具

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