在半導體行業，圓晶減薄當然是非常精密的加工過程。在減薄過程中，需要用接觸式或非接觸式傳感器嚴格控制加工過程。從步驟來看，封裝前，圓晶需要達到正確的厚度，這是半導體生產的關鍵。圓晶背面研磨（圓晶減薄）是一種半導體生產工序，在此期間需要嚴格控制圓晶厚度，使圓晶達到超薄的厚度，可疊放和高密度封裝在微型電子器件中。馬波斯傳感器甚至可檢測到砂輪與圓晶接觸的瞬間或檢查任何過載。同時，馬波斯傳感器可在干式和濕式環境中可靠地在線測量厚度。MARPOSS局部放電絕緣測試（PDIV測試）能夠識別相間或相與定子主體之間的潛在絕緣缺陷。自動光學檢測設備

OPTOFLASH柔性光學測量機，是馬波斯公司測量機部門的產品。Optoflash不僅能在實驗室里，也能在生產現場環境下進行快速、精細的質量控制。該系統提供了一套種類齊全、應用的測量軟件，可以輕松地解決各種常見的測量問題，包括靜態和動態旋轉模式下的尺寸、位置和形狀測量。此外，它還具有獨特的螺紋參數測量功能。Optoflash測量系統應用了全球關鍵的光電技術，能以前所未有的快速度，對各類軸類件進行微米級精度的測量。Optoflash機器上所集成的一個或多個固定式光學傳感器，可以覆蓋整個測量范圍。該設計具有突出的優點，即無論是光學系統，還是被測量的零件，兩者都無需沿軸向進行移動。馬波斯手冊無損探測以渦流為基礎，渦流是由時變磁場在導電材料內引起的小電流回路。

泄漏檢測是電芯生產中的必要工序，尤其是對新一代鋰離子電芯來說，更是如此。電解液通常含易燃溶劑，如果與空氣中的水分接觸，會產生有害物質。為了避免電解液的泄漏，必須保證電芯的充分密封。此外，還需避免水分或其它外部污染物進入電芯內而影響電芯的正常工作。在傳統的電芯生產線上，一般會使用氦氣作為示蹤氣體來檢測泄漏，但該方法只能用于在電芯尚未完全密封的階段使用，或是在注液期間充入氦氣并將氦氣封存在電芯內，然而這種方法會影響生產工藝，也并不適用于所有類型的電芯。然而電解液示蹤技術可在生產過程EOL階段檢測電芯泄漏情況，即在電芯注液并密封后進行檢測。

Marposs為各種制造過程的控制和·優化提供解決方案,從單個組件到裝配制程的控制,以及整個裝配方案的功能檢查。通過反電動勢分析檢查永磁轉子的磁場均勻性、檢查感應電機鼠籠轉子條的局部缺陷、繞線轉子的絕緣測試，包括局部放電測量等。研究表明,在某類電機中使用hairpin扁線繞組具有許多優點。更高的銅槽填充系數減少了熱量,提高轉矩和功率密度,從而減小電動汽車電機的尺寸。Hairpin有靈活的結構和獨特的形狀:尺寸、角度和截面等均有不同。這就是為什么每一個hairpin的幾何尺寸和質量都有必要檢查,以確保質量穩定。局部放電測試功能由E.D.C.集成在一套完整的產品系列中，單一設備可集成所有不同的電性能和功能測試選項。

電池pack是電動汽車動力總成中的要素之一，該組件的性能是PHEV和BEV汽車未來商業化成功的關鍵。該組件體現了電動汽車的價值，因此，必須在整個產業鏈上提供足夠的質量和過程控制來保證比較高的質量水平。馬波斯關于電池pack組裝的方案集中在如下關鍵工序成品電池pack和冷卻回路的泄漏測試。在用嗅探法對電池PACK進行泄漏測試時，泄漏測試是電池pack裝配過程中的基本要求，用于檢查電池pack的氣密性，以防止水、濕氣、灰塵或其他外部污染物進入，導致電池pack內部的高壓零部件出現短路。馬波斯為電動馬達及其組件開發生產的所有階段的所有電氣測試和絕緣問題檢測提供定制的在線和離線解決方案。自動光學檢測設備

局部放電測試法能識別潛在絕緣缺陷的方法,潛在的絕緣缺陷會使產品運行短時間后產生故障。自動光學檢測設備

MARPOSS嗅探氦氣泄漏測試方案能夠測量10-2-10-4SCC/sec的泄漏。該技術在此漏率范圍內取得了非常好的測試結果，并且方案簡單可靠。通過空氣泄漏測試方法（壓降法或質量流量法）檢查組裝好的冷卻回路。從優勢的角度來看，嗅探氦氣泄漏測試方案檢測泄漏精度高達10-4SCC/sec，該方法不受待測產品和環境溫度影響適用于大體積和外殼會變形的產品的測試識別泄漏位置，使用多個機器人嗅探以優化測試節拍按照客戶的規格要求定制方案或通用化解決方案結構堅固部件易于獲得，易于進行保養。自動光學檢測設備