• 校準前準備
  • 選擇標準器：選取高精度的溫濕度標準器，如高精度的鉑電阻溫度計和電容式濕度傳感器作為標準，其精度應比被校準的溫濕度計至少高一個等級。例如，標準濕度傳感器的精度為 ±2% RH，被校準溫濕度計的精度為 ±5% RH。
  • 準備校準環境：選擇一個溫度和濕度相對穩定、無明顯氣流和振動、無強電磁場干擾的環境。一般來說，環境溫度波動應控制在 ±1℃以內，濕度波動控制在 ±5% RH 以內。
• 校準步驟
  • 溫度校準：將溫濕度計和標準溫度計同時放入恒溫恒濕箱中，設置不同的溫度點，如 10℃、20℃、30℃等，每個溫度點穩定后，記錄標準溫度計和被校溫濕度計的溫度示數，計算溫度誤差。
  • 濕度校準：在恒溫恒濕箱中設置不同的濕度點，如 30% RH、50% RH、70% RH 等，待濕度穩定后，記錄標準濕度傳感器和被校溫濕度計的濕度數，計算濕度誤差。

校準前準備

1. 設備準備：標準器采用鉑電阻溫度計或輻射溫度計，準備滿足校準規范的輻射源，如高精度的黑體輻射源。
2. 環境條件：校準時的溫度應為 23℃±5℃，相對濕度應不大于 85%（無結露），外界無較大干擾源。
3. 人員要求：校準人員應熟悉校準規程和待測設備的性能參數，會規范使用設備，比較好是通過培訓或有同種校準經驗的人員。

校準流程

1. 外觀檢查：檢查待校準熱像儀外觀是否潔凈，有無形變、破損，數字顯示是否清晰，各部件是否齊全、連接是否緊固，設備的名稱、型號、性能參數、使用說明等資料是否齊全。
2. 基本功能檢測：確認待校準設備部件齊全，按鍵、電源等正常，正常工作。
3. 性能檢測
   • 準備校準實驗室：在校準實驗室中，使用高精度的熱像儀參考源，將參考源均勻排列，以便熱像儀進行測量。
   • 執行校準：熱像儀依次指向每個參考源，并記錄每個溫度下的信號值。校準軟件捕獲這些信號值和參考源的溫度值，并用于繪制曲線。
   • 數據分析：校準完成后，將熱像儀的數據載入校準軟件中進行分析，確定熱像儀的準確性和精度。

校準結果處理

1. 判定：根據校準數據判定被測儀器，如所有校準項目均合格則出具檢測證書，如有不合格項目，要做好標注，出具檢測結果通知。

溫度數據采集儀校準前準備

1. 標準器及配套設備

1.標準信號源：選用多通道高精度信號源（如熱電偶/熱電阻模擬器），不確定度優于被校儀器的1/3，支持K型、PT100等傳感器類型；模擬輸入需標準電壓/電流源，誤差≤±0.02% FS。

2.恒溫設備：干井爐、恒溫槽或黑體爐需覆蓋被校量程，溫度穩定性±0.05℃（高精度）或±0.1℃（常規），均勻度±0.1℃。

3.參考儀器：6?位以上數字萬用表（誤差≤±0.01%）驗證信號源，配備數據記錄軟件同步采集多通道數據。

2. 環境條件

1.實驗室溫度（20±3）℃，濕度30%-70%，

2.無強電磁干擾（需屏蔽或接地）、振動，工作臺防震處理。

3. 被校儀器檢查

1.外觀與接口：外殼、屏幕、按鍵完好，標識清晰；輸入/輸出端子無氧化、松動。

2.功能預檢：開機自檢無報錯，通道切換響應穩定；通過上位機軟件驗證數據傳輸（如Modbus、USB）及存儲功能。

3.參數配置：核對采樣率、量程、濾波設置，更新固件。

數字溫度計校準步驟

1.設備連接與預熱

1.將被校數字溫度計與標準鉑電阻溫度計（如PT100）并列置于恒溫槽中，確保傳感器浸入深度≥100mm。

2.連接數字溫度計輸出信號至數據采集器，通電預熱20分鐘。

2.零點校準

1.設置恒溫槽至0℃，待溫度波動≤±0.1℃時保持10分鐘。

2.記錄標準溫度值T標與數字溫度計示值T測，計算零點誤差ΔT=T測-T標。

3.若誤差超差（如±0.3℃），通過校準菜單修正零點參數。

3.量程校準

1.升溫至量程上限（如150℃），穩定后記錄標準值與測量值。

2.調整量程增益系數，確保上限點誤差≤±0.5%FS。

4.多點校準

1.選取校準點：0℃、50℃、100℃、150℃（量程為0-150℃時）。

2.每點穩定后同步記錄數據，計算線性誤差（要求≤±0.2%FS）。

3.通過多點擬合功能優化溫度-電壓特性曲線。

5.回程誤差測試

1.從50℃以1℃/min速率升溫至100℃，記錄各點示值。

2.同速率降溫至50℃，計算同溫度點升/降溫比較大偏差（應≤±0.3℃）。

6.穩定性驗證

1.在100℃恒溫點持續運行4小時，每小時記錄1次數據。

2.比較大漂移量應≤±0.1℃（滿足年穩定性≤0.2%FS要求）。 溫度濕度壓力，英菲精確發力!

溫濕度巡回檢測儀校準步驟

1.設備配置與預處理

1.將標準鉑電阻溫度計或標準鉑銠熱電偶與被校設備并列安裝，傳感器間距≤10mm，浸入恒溫槽/檢定爐均溫區深度≥80mm。

2.連接精密露點儀用于濕度校準，露點傳感器置于校準箱下風口，溫度傳感器置于上風口（間距5-10cm）。

2.校準點選擇

1.溫度校準點：量程內均勻選取≥5點（含0℃和上限），負溫區按高溫→低溫順序校準。

2.濕度校準點：20℃環境中選擇（5~95）%RH范圍內≥3個點（如40%RH、60%RH、80%RH）。

3.溫度校準

1.從低溫至高溫逐點升溫，恒溫槽波動≤±0.1℃時穩定30分鐘，同步采集標準值與巡檢儀各通道數據4次。

2.計算示值誤差：ΔT=被校值-標準值，鉑電阻誤差限±(0.15℃+0.002|t|)，熱電偶±0.4%|t|。

4.濕度校準

1.按低濕→高濕順序校準，穩定30分鐘后每2分鐘記錄1次數據，共4組。

2.計算濕度一致性：δH=ΔHmax-ΔHmin，允差≤±2.0%RH。

5.通道一致性驗證

1.溫度一致性：同一校準點各通道最大值與最小值的差值≤允差***值（如±0.20℃時一致性≤0.40℃）。

2.濕度一致性：各通道示值誤差極差≤±1.5%RH。

6.穩定性測試

在300℃（鉑電阻）或中間溫度點連續運行4小時，每小時記錄數據，漂移量≤±0.5℃。

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工作用輻射溫度計**結構與工作流程

(1) 光學系統

• 紅外透鏡/反射鏡：聚焦目標物體發出的紅外輻射至探測器。透鏡材料需透紅外光（如鍺、硒化鋅），避免普通玻璃對紅外線的吸收。
• 視場角與距離系數（D:S）：決定測量區域大小，例如D:S=12:1表示在12cm距離下測量1cm直徑區域。

(2) 探測器

• 熱電堆（Thermopile）：利用溫差電效應將紅外輻射轉換為電壓信號，無需制冷，成本低（常用類型）。
• 光電導型探測器（如InGaAs、HgCdTe）：對特定波長敏感，需制冷以提高靈敏度，用于高精度場合。
• 熱釋電探測器：響應速度快，適合動態測溫。

(3) 信號處理與溫度計算

• 信號放大與濾波：探測器輸出的微弱電信號經放大和濾波（抑制環境干擾）。
• 發射率（ε）校正：實際物體非理想黑體（ε<1），需根據材料設置發射率（如拋光金屬ε≈0.1，氧化金屬ε≈0.8，人體皮膚ε≈0.98）。
• 溫度反演算法：通過斯特藩-玻爾茲曼公式或分波長亮度法計算溫度值。

(4) 顯示與輸出

• 溫度顯示：LCD屏幕直接顯示溫度值（℃/℉可切換）。
• 數據接口：RS-232、USB或無線傳輸至計算機或PLC系統。