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電路板的PCB布局對電氣完整性測試有很大的影響。電路板的布局應(yīng)該合理，遵循一定的設(shè)計規(guī)則，具有良好的地面引線、電源引線等，這些都是為了減小電路板的噪聲干擾、提升電路板的信號完整性。如果電路板的布局不合理或者違反了設(shè)計規(guī)則，會導(dǎo)致電路中易受干擾、噪聲信號干擾等問...

高速電路測試是近年來電子工業(yè)領(lǐng)域中非常重要的一個分支，它涉及到數(shù)字電路、模擬電路以及混合電路的測試，旨在確保電路能夠穩(wěn)定地在高速、高頻率等極端條件下工作。本篇文章將介紹高速電路測試的基本概念、測試方法、測試技術(shù)和測試設(shè)備等方面的內(nèi)容。 一、基...

LPDDR4可以同時進(jìn)行讀取和寫入操作，這是通過內(nèi)部數(shù)據(jù)通路的并行操作實(shí)現(xiàn)的。以下是一些關(guān)鍵的技術(shù)實(shí)現(xiàn)并行操作：存儲體結(jié)構(gòu)：LPDDR4使用了復(fù)雜的存儲體結(jié)構(gòu)，通過將存儲體劃分為多個的子存儲體組（bank）來提供并行訪問能力。每個子存儲體組都有自己的讀取和寫入...

LPDDR4的時序參數(shù)通常包括以下幾項(xiàng)：CAS延遲（CL）：表示從命令信號到數(shù)據(jù)可用的延遲時間。較低的CAS延遲值意味著更快的存儲器響應(yīng)速度和更快的數(shù)據(jù)傳輸。RAS到CAS延遲（tRCD）：表示讀取命令和列命令之間的延遲時間。較低的tRCD值表示更快的存儲器響...

LPDDR4采用的數(shù)據(jù)傳輸模式是雙數(shù)據(jù)速率（DoubleDataRate，DDR）模式。DDR模式利用上升沿和下降沿兩個時鐘信號的變化來傳輸數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)了在每個時鐘周期內(nèi)傳輸兩個數(shù)據(jù)位，從而提高數(shù)據(jù)傳輸效率。關(guān)于數(shù)據(jù)交錯方式，LPDDR4支持以下兩種數(shù)據(jù)交錯模式...

LPDDR4具備動態(tài)電壓頻率調(diào)整（DynamicVoltageFrequencyScaling，DVFS）功能。該功能允許系統(tǒng)根據(jù)實(shí)際負(fù)載和需求來動態(tài)調(diào)整LPDDR4的供電電壓和時鐘頻率，以實(shí)現(xiàn)性能優(yōu)化和功耗控制。在LPDDR4中，DVFS的電壓和頻率調(diào)整是通...

LPDDR4的寫入和擦除速度受到多個因素的影響，包括存儲芯片的性能、容量、工作頻率，以及系統(tǒng)的配置和其他因素。通常情況下，LPDDR4具有較快的寫入和擦除速度，可以滿足大多數(shù)應(yīng)用的需求。關(guān)于寫入操作，LPDDR4使用可變延遲寫入（VariableLatency...

信號完整性是電氣完整性中的一個關(guān)鍵環(huán)節(jié)，它包括電流、電壓、時序和電磁兼容等方面的分析。信號的傳輸速度以及各個終端的負(fù)載都會影響信號完整性，因此需要對信號進(jìn)行有效的電氣保護(hù)和過濾，常見的方式是使用衰減器、濾波器以及EMI屏蔽等方法。 在實(shí)際應(yīng)用中，電氣...

按照存儲信息方式的不同，隨機(jī)存儲器又分為靜態(tài)隨機(jī)存儲器SRAM(Static RAM)和 動態(tài)隨機(jī)存儲器DRAM(Dynamic RAM)。SRAM運(yùn)行速度較快、時延小、控制簡單，但是 SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲需要多個晶體管，不容易實(shí)現(xiàn)大的存儲容量，主要用于一...

理想的跳變位置。抖動是個相對的時間量，怎么確定信號的理想的跳變位置對于 抖動的測量結(jié)果有很關(guān)鍵的影響。對于時鐘信號的測量，我們通常關(guān)心的是時鐘信號是否 精確地等間隔，因此這個理想位置通常是從被測信號中提取的一個等周期分布時鐘的跳變 沿；而對于數(shù)據(jù)信號的測量，我...

要把并行的信號通過串行總線傳輸，一般需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行并/串轉(zhuǎn)換。為了進(jìn)一步減少傳輸線的數(shù)量和提高傳輸距離，很多高速數(shù)據(jù)總線采用嵌入式時鐘和8b/10b的數(shù)據(jù)編碼方式。8b/10b編碼由于直流平衡、支持AC耦合、可嵌入時鐘信息、抗共模干擾能力強(qiáng)、編解碼結(jié)構(gòu)相對簡單...

信號完整性是指保證信號在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，信號完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號完整性的基礎(chǔ)知識。 1. 信號完整性相關(guān)參數(shù)： -上升時間：信號從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r...

電氣完整性測試是電子產(chǎn)品設(shè)計和制造過程中非常重要的步驟。在電子產(chǎn)品中，信號傳輸是一個至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。如果傳輸?shù)男盘柌环€(wěn)定或失真，電子產(chǎn)品可能無法正常工作，甚至?xí)p壞其他設(shè)備。因此，電氣完整性測試的主要目的是確保設(shè)計的電路板能夠可靠地傳輸信號，并在不同工作環(huán)...

DDR系統(tǒng)設(shè)計過程，以及將實(shí)際的設(shè)計需求和DDR規(guī)范中的主要性能指標(biāo)相結(jié)合，我們以一個實(shí)際的設(shè)計分析實(shí)例來說明，如何在一個DDR系統(tǒng)設(shè)計中，解讀并使用DDR規(guī)范中的參數(shù)，應(yīng)用到實(shí)際的系統(tǒng)設(shè)計中。某項(xiàng)目中，對DDR系統(tǒng)的功能模塊細(xì)化框圖。在這個系統(tǒng)中，對DD...

信號完整性的設(shè)計方法（步驟） 掌握信號完整性問題的相關(guān)知識；系統(tǒng)設(shè)計階段采用規(guī)避信號完整性風(fēng)險的設(shè)計方案，搭建穩(wěn)健的系統(tǒng)框架；對目標(biāo)電路板上的信號進(jìn)行分類，識別潛在的SI風(fēng)險，確定SI設(shè)計的總體原則；在原理圖階段，按照一定的方法對部分問題提前進(jìn)行SI...

電氣完整性測試通常會涉及以下幾個方面的內(nèi)容： 1.時域分析測試：時域分析測試能夠幫助測試人員檢測信號的時序完整性和穩(wěn)定性。通常，測試人員會通過示波器、面板測試器等設(shè)備對信號進(jìn)行時域分析，并對信號的上升時間、下降時間、峰峰值和波形形狀等參數(shù)進(jìn)行測試和分...

LVDS（低壓差分信號）物理層信號完整性測試通常涉及以下幾個方面的考慮：信號波形測試：包括時鐘、數(shù)據(jù)和控制信號的波形測試，以確保它們符合LVDS標(biāo)準(zhǔn)的要求。這可能涉及使用示波器或者邏輯分析儀進(jìn)行波形捕獲和分析。信號幅度和功耗測試：需要確認(rèn)信號的幅度符合LVDS...

電氣完整性測試通常會關(guān)注以下幾個關(guān)鍵指標(biāo)：1.插入損耗（InsertionLoss）： 插入損耗是指信號穿過PCB時的損耗強(qiáng)度，即輸入水平和輸出水平之間的差異。插入損耗是反映信號傳輸質(zhì)量的一個重要指標(biāo)，一般情況下，插入損耗應(yīng)該小于0.5dB。 ...

共享式以太網(wǎng) 共享式以太網(wǎng)的典型是使用10Base2/10Base5的總線型網(wǎng)絡(luò)和以集線器（集線 器）為的星型網(wǎng)絡(luò)。在使用集線器的以太網(wǎng)中，集線器將很多以太網(wǎng)設(shè)備集中到一臺中心設(shè)備上，這些設(shè)備都連接到集線器中的同一物理總線結(jié)構(gòu)中。從本質(zhì)上講，以集線...

4.環(huán)行測試法（LoopbackTesting）：這種方法將信號經(jīng)過被測設(shè)備后，再經(jīng)過回路檢查信號質(zhì)量，評估信號完整性。這種方法應(yīng)用于設(shè)備信號完整性評估中較為常用。 進(jìn)行信號完整性測試后，需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，通常包括以下幾個方面： 1.處理眼圖...

信號完整性是指保證信號在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，信號完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號完整性的基礎(chǔ)知識。 1. 信號完整性相關(guān)參數(shù)： -上升時間：信號從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r...

電氣完整性測試通常包括以下幾種類型： 1.傳輸線完整性測試：主要測試傳輸線電氣信號在傳輸過程中的完整性，包括傳輸線的阻抗、傳輸線的衰減、傳輸線的反射系數(shù)等。 2.時序完整性測試：主要測試電路設(shè)計中不同信號之間的時序關(guān)系是否符合要求，其中包括時鐘...

電氣完整性測試可以使用多種工具進(jìn)行，常見的有以下幾種： 1.多用表：可以測量電路的電壓、電流、電阻等參數(shù)，是常見的電氣測試工具之一。 2.熔斷器性能測試儀：用于檢查熔斷器的性能，包括額定電流及過流保護(hù)時間。 3.地絕緣測試儀：用于檢測設(shè)備...

4.環(huán)行測試法（LoopbackTesting）：這種方法將信號經(jīng)過被測設(shè)備后，再經(jīng)過回路檢查信號質(zhì)量，評估信號完整性。這種方法應(yīng)用于設(shè)備信號完整性評估中較為常用。 進(jìn)行信號完整性測試后，需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，通常包括以下幾個方面： 1.處理眼圖...

如果LVDS發(fā)射端一致性測試未通過，表示LVDS發(fā)射器的性能沒有達(dá)到預(yù)期或規(guī)定要求。在這種情況下，可以考慮以下幾個處理步驟：檢查測試設(shè)置和參數(shù)：首先，檢查測試設(shè)置和參數(shù)是否正確。確保采用了適當(dāng)?shù)臏y試方法、正確的測試設(shè)備和合適的測試條件。如果發(fā)現(xiàn)測試設(shè)置有誤，可...

阻抗匹配：確保傳輸線的特征阻抗與驅(qū)動器和之間的阻抗相匹配非常重要。如果阻抗不匹配，會導(dǎo)致信號反射、衰減和時鐘抖動等問題，從而影響信號完整性和可靠性。使用規(guī)范的電路板材料和精確的布線參數(shù)，并采用適當(dāng)?shù)木€纜、連接器和終端設(shè)計，可以實(shí)現(xiàn)正確的阻抗匹配。時鐘和校準(zhǔn)：時...

高速串行數(shù)據(jù)測試：這個測試主要針對eDP接口的高速差分信號進(jìn)行，以驗(yàn)證數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和準(zhǔn)確性。通過比特錯誤率（BER）檢測和眼圖（eye diagram）分析等方法評估傳輸?shù)馁|(zhì)量。電源和地線穩(wěn)定性測試：eDP接口的穩(wěn)定供電和良好的地線連接對于信號完整性至關(guān)重...

信號電平和波形測量：測量LVDS信號的電平值、上升/下降時間、振蕩環(huán)節(jié)、眼圖等參數(shù)，以評估信號的質(zhì)量和穩(wěn)定性。抖動和時鐘同步：評估信號的抖動特性，包括峰-峰抖動和時鐘同步，檢查抖動是否超出規(guī)定容許值，并確保信號的時鐘和數(shù)據(jù)同步。串?dāng)_和噪聲抑制：通過注入干擾信號...

LVDS發(fā)射端一致性測試通常涵蓋以下一些常見的測試項(xiàng)目：電氣參數(shù)測試：包括信號幅度、波形、偏移、差分幅度和傳輸速率等電氣參數(shù)的測量和測試。這些參數(shù)測試主要用于驗(yàn)證LVDS發(fā)射器輸出信號的電氣特性是否符合規(guī)定的要求。抗干擾能力測試：測試LVDS發(fā)射器在面臨特定干...

評估eDP物理層信號完整性常需要進(jìn)行以下測試和分析：信號電平測量：使用示波器或邏輯分析儀等設(shè)備來測量信號的電平，并確保其符合規(guī)范要求。時域分析：使用時域分析器觀察信號的波形變化、毛刺和幅度失真等情況。眼圖分析：使用眼圖儀器來展示信號眼圖，包括開口寬度和形狀等參...