X射線顯微CT:先進的無損三維顯微鏡顯微CT即Micro-CT,為三維X射線成像,與醫用CT(或“CAT”)原理相同,可進行小尺寸、高精度掃描。通過對樣品內部非常細微的結構進行無損成像,真正實現三維顯微成像。無需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。單次掃描將能實現...
多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結構參數的有效無損檢測手段。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀...
ROIShrink-wrap功能可以完美的解決復雜形態ROI的自動選取,并且可以與CTAn的另一個功能PrimitiveROI相結合,可以ROI包含我們感興趣的邊界。高分辨率X射線三維成像系統可以應用在多孔介質滲流特性的研究中,與入口和出口表面相連通的孔隙在其...
EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D、快照和掃描模式),覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統意義上的萬金油,而是所有分析應用領域的專業用戶。其可實現無吸收測量的動態范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過...
Space-savingbenchtopsystemwithminimuminstallationrequirementsdomesticpowerplug,nowaterorcompressedair,maintenance-freesealedX-rays
高分辨三維X射線顯微成像系統━內部結構非破壞性的成像技術眼見為實!這是我們常常將顯微鏡應用于材料表征的原因。傳統的顯微鏡利用光或電子束,對樣品直接進行成像。其他的,如原子力顯微鏡(AFM),則利用傳感器來檢測樣品表面。這些方法都能夠提供樣品表面/近表面結構或特...
X射線反射率測定引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)是一種表面表征技術,是利用X射線在不同物質表面或界面的反射線之間的干涉現象分析薄膜或多層膜結構的工具。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結構參數。XRR...
嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤膚粉、美容粉、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,能增強這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能。所以,在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生礦物,滑石粉中可能含有石棉。石棉纖維被人體吸入到肺會引起...
由于具有出色的適應能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同...
EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D、快照和掃描模式),覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統意義上的萬金油,而是所有分析應用領域的專業用戶。其可實現無吸收測量的動態范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過...
特點介紹SkyScan1272是一臺具有革新意義的高分辨三維X射線顯微成像系統統。單次掃描比較高可獲得2000張,每張大小為146M(12069x12069像素)的超清無損切片,用于之后高分辨三維重建。通過先進的相襯增強技術,SkyScan1272對樣品的細節...
石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業:使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射...
制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發生改變,進而可能影響到藥物的療效。國內外FDA規定多晶型藥物在研制、生產、貯存過程中必須保證其晶型的一致性...
D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源,其能耗極低,無需外設水冷,對實驗室基礎設施亦無特殊要求。您只需準備家用壁式插座即可。因此,您將能簡單快捷地完成安裝和定位。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,將擁有成本和立式XRD儀器...
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所有測量都支持手動設置,從而確保為難度較大的樣本設置比較好參數。即使在分辨率低于5μm的情況下,典型掃描時間也在15分鐘以內。無隱性成本:一款免維護的桌面μCT封閉式X射線管支持全天候工作,不存在因更換破損的燈絲而停機的情況,為您節約大量時間和成本。X射線源:...
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節點技術的發展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節點的a20范圍內。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術...
藥物:從藥物發現到藥物生產,D8D為藥品的整個生命周期提供支持,其中包括結構測定、候選材料鑒別、配方定量和非環境穩定性測試。地質學:D8D是地質構造研究的理想之選。借助μXRD,哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結構測定也不在話下。金屬:在常見的金屬樣品檢測技...
無損顯微CT3D-XRM不需要進行切片,染色或噴金等樣品處理。顯微CT3D-XRM的樣品可重復測試,進行縱向比對。高襯度圖像聚丙烯這類主要由C,H等輕元素組成的物質,對X射線吸收非常弱,想獲得足夠高的對比度,①要求X射線探測器的靈敏程度高,可以識別出微小的信號...
二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學性質不活潑,且具有高熔點、高電阻率、高折射率和低熱膨脹系數等獨特的物理化學性質,使它成為重要的耐高溫材料、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑。其結構主要有三種晶型:單斜相、四方相以及立方相。不同晶體結構對應的物理化學性質有較大區別,X射...
SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數。只需單擊一下,即可自動優化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因,SKYSCAN1272...
PorositydeterminationinSandstoneScannedat1μmvoxelsize2mmmicroplug80kV,3h30scantimePoresandcracksCoatingthicknessDistributionofacti
新的多量程X射線納米級斷層掃描系統SKYSCAN2214,能用一臺儀器涵蓋廣闊的物體尺寸和空間分辨率。它為地質材料的三維成像和精確建模開創了當世無雙的可能,適合石油和天然氣勘探、復合材料、鋰電池、燃料電池、電子組件,以及肺部成像或tumour血管化等體外的臨床...
§DataViewer可視化軟件通過DavaViewer可靈活查看重構后的圖像??蓪崿F逐層動畫演示,以重構空間任意一點為中心采用三個正交切片顯示,可用鼠標靈活控制。可繞任意軸旋轉物體,或以任意方向重新保存圖像??蓪崿F掃描過程中(配備相應的樣品臺)4維展示壓縮/...
由于具有出色的適應能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同...
石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業:使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射...
當石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時,如圖2,樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當然,也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在。需要對衍射峰進行分峰處理,得到各個子峰的峰位和積分強度值,如圖2所示。分別計算各子峰的石墨化度,再利用各子峰的積分強度為權重,歸...
技術規范:X射線源:20-100kV,10W,焦點尺寸<5μm@4WX射線探測器:1600萬像素(4904×3280像素)或1100萬像素(4032×2688像素)14位冷卻式CCD光纖連接至閃爍體標稱分辨率(放大率下樣品的像素):1600萬像素探測器<0.3...
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術組件。它專為在環境條件下和非環境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。應用范圍:1.定性相分析和定量相分析、結構測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射...
需按下啟動按鈕即可啟動μCT快速桌面解決方案!超高速度、圖像SKYSCAN1275專為快速掃描多種樣品而設計。該系統采用一個功能強大的廣角X射線源(100kV)和高效的大型平板探測器,可以輕松實現大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀...