Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術，覆蓋 190-2700nm 寬光譜，可測 2.5μm-10mm 光束直徑，0.1μm 超高分辨率突破傳統檢測極限。其創新設計實現三大優勢： 雙模式自適應檢測 通過軟件切換刀口 / 狹縫模式，分析 < 20μm 極小光斑形態或 10mm 大光斑能量分布，全量程無盲區。 高功率直接測量 狹縫物理衰減機制允許單次通過狹縫區域光，無需外置衰減片即可安全測量近 10W 高功率激光。 超分辨率成像 基于狹縫掃描原理實現 0.1μm 分辨率，完整捕捉亞微米級光斑細節，避免能量分布特征丟失。 設備內置正交狹縫轉動輪，通過旋轉掃描同步采集 XY 軸功率數據，經算法處理輸出光束直徑、橢圓率等 20 + 參數。緊湊模塊化設計適配多場景安裝，通過 CE/FCC 認證，適用于激光加工、醫療設備及科研領域，助力客戶提升光束質量檢測精度與效率。

維度光電的BeamHere光斑分析儀系列品類齊全。從精細的微小光斑分析到大面積的宏觀光斑探測，從**能量到高能量密度的光斑測量，無一不在其覆蓋范圍之內。無論是科研實驗中對微小光斑現象的，需要超高分辨率的光斑分析；還是工業生產里對大功率激光加工光束質量的把控，涉及高能量密度光斑的監測，BeamHere光斑分析儀都能出色勝任。 其應用方案更是豐富多樣。在激光加工領域，可助力企業優化切割、焊接工藝，確保光斑能量均勻分布，提高加工精度與效率；于生物醫學成像方面，能夠幫助科研人員清晰解析光學成像系統中的光斑特性，提升成像質量與診斷性；在光通信行業，為光信號的傳輸質量檢測提供有力*，確保數據傳輸的高速與穩定。